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光伏组件的PID效应和封装资料的联系
来源:http://www.bandhig.com 责任编辑:w66利来国际老牌 更新日期:2018-10-07 07:42
光伏组件的PID效应和封装资料的联系 一、前语 跟着光伏组件大规模运用一段时刻后,特别是越来越多的投入运营的大型光伏电厂运营三四年后,业界对光伏组件的电位诱发衰减效应(PID,PotentialInducedDegradation)的重视越来越多。虽然尚无清晰的由PID原因引

  光伏组件的PID效应和封装资料的联系

  一、前语

  跟着光伏组件大规模运用一段时刻后,特别是越来越多的投入运营的大型光伏电厂运营三四年后,业界对光伏组件的电位诱发衰减效应(PID,PotentialInducedDegradation)的重视越来越多。虽然尚无清晰的由PID原因引发光伏电站在作业三、四年后发作大幅衰减的报导,但对一些电站作业几年后就发作显着衰减现象的原因的种种猜想使光伏职业对PID的原因和防备办法的评论越来越多。一些国家和地区已逐渐开端把抗PID作为组件的要害要求之一。许多日本用户清晰要求把抗PID写入合同,并随机抽检。欧洲的买家也摩拳擦掌提出相同的要求。此趋势也使得国内越来越多的光伏电站业主单位、光伏电池和组件厂、测验单位和资料供货商对PID的研讨越来越深化。

  其实早在2005年,Sunpower就发现晶硅型的背触摸n型电池在组件中施加正高压后存在PID现象。2008年,Evergreen报导了PID出现在高负偏压下的正面衔接p型电池组件中。在2010年,SolonSE报导在规范的单晶和多晶电池中都发现了极化效应。很快SolonSE和NREL就提出在负高偏压下运用任何工艺出产的P型电池规范组件都存在发作PID现象的极大危险。而CIGS组件的PID效应也有被报导。

  二、PID的检测方法

  PID测验有两种加快老化的方法:

  1)在特定的温度、湿度下,在组件玻璃外表掩盖铝箔、铜箔或许湿布,在组件的输出端和外表掩盖物之间施加电压必定的时刻。

  2)在85%湿度85℃或许是60℃或85℃的环境下将-1000V直流电施加在组件输出端和铝框上96小时。

  在两种方法测验前,都对组件进行功率、湿漏电测验并EL成像。老化完毕后,再次进行功率、湿漏电测验并EL成像。将测验前后的成果进行比较,然后得出PID在设定条件下的发作状况。第一种方法比较多的用于实验组织,然后一种方法比较多的被光伏组件厂选用。当PID现象发作时,从EL成像能够看到部分电池片发黑。光伏组件在上述两种测验方法下表现出的的EL成像图是不同的。第一种方法条件下,发黑的电池片随机的散布在组件内,而在第二种方法中,电池片发黑的现象首先在接近铝框处发作。

  现在IEC尚没有出台有关实验室进行PID测验和评价的正式规范,但有一个作业文件,大致测验方法如下:

  (1)取样:按IEC60410要求,从相同批次中抽取,2个组件。

  (2)消除组件前期衰减效应,组件开路进行5-5.5Kwh/m2辐照。

  (3)目测,按IEC61215章节7,IEC61730-2章节10.1.3。

  (4)组件EL成像和最大功率测定。

  (5)湿漏电流测验和接地连续性测验。

  (6)60+/-2℃、85+/-5%,体系电压施加在组件输出端和铝框之间96小时。

  (7)组件EL成像和最大功率测定、湿热电流测定。

  (8)合格断定。

  合格断定根据于:

  (1)最大功率与初始值比,衰减不超越5%。

  (2)没有目测不合格现象,按IEC61215章节7,IEC61730-2章节10.1.3。

  (3)湿漏电流测验,契合IEC61215章节10.15。

  (4)实验完毕后组件功用完好。

  要阐明的是,越来越多的组件用户要求组件能经过85+/-2℃、湿度85+/-5%的测验。这个要求对组件厂而言对错常有应战的,要害在于真实的量产,而不是做一两块能够经过双85测验的组件。

 
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